粉碎和均化
在诸如AAS、NIR、ICP以及XRF等等的化学和物理分析方法中，分析样品不仅必须要预先经粉碎达到一定的满足分析要求细度，同时还必须达到尽可能高的均化度。
可靠而且准确的样品分析必须有可重复性的样品前处理进行保障。RETSCH在这一领域为您提供一整套完整的解决 方案，包括各种最现代化的研磨仪和粉碎仪，能够提供满足各种样品特性要求的粗粉碎、细粉碎和超细度粉碎处理。丰富的研磨件（切割头）和配件供应保证了我们 的仪器能够在各种前提下实现满足分析要求的样品前处理，消除粉碎过程中产生样品污染的可能性，同时满足对样品本身进行温和维护的要求
颚式粉碎仪
超离心粉碎仪 ZM
切割式研磨仪
